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颗粒碰撞噪声测试仪4540系列


颗粒碰撞噪声检测(Particle Impact Noise Detection,PIND)试验是一种多余物检验的有效手段。颗粒碰撞噪声检测仪用于检测集成电路、晶体管、电容器、航空/航天/军事领域的继电器等电子元器件封装内的多余物松散颗粒,目的在于检测器件封装腔体内存在的自由粒子(在高速飞行和失重状态下,这些粒子会撞击元器件或焊点,造成损伤和短路),可以检测出质量只有2微克(0.000002克)的颗粒物,是一种非破坏性实验,最终目的是提高元器件的可靠性。

所属分类:

PIND颗粒碰撞噪声检测仪

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产品关键词:水质自动采样器 多通阀 PIND颗粒碰撞噪声检测仪

  • 产品描述
  • 产品简介


           颗粒碰撞噪声检测(Particle Impact Noise Detection,PIND)试验是一种多余物检验的有效手段。颗粒碰撞噪声检测仪用于检测集成电路、晶体管、电容器、航空/航天/军事领域的继电器等电子元器件封装内的多余物松散颗粒,目的在于检测器件封装腔体内存在的自由粒子(在高速飞行和失重状态下,这些粒子会撞击元器件或焊点,造成损伤和短路),可以检测出质量只有2微克(0.000002克)的颗粒物,是一种非破坏性实验,最终目的是提高元器件的可靠性。
           原理是利用振动台产生一系列指定的机械冲击和振动,通过冲击使被束缚在产品中的颗粒(即多余物)松动,再通过一定频率的振动,使多余物在系统内产生位移。活动多余物在产品中发生位移的过程,是多余物相对产品壳体的滑动过程和撞击过程的一个随机组合过程。在这个过程中,将产生应力弹性波和声波。两种波在产品壳体中传播,并形成混响信号,这个混响信号被定义为位移信号。
           采用压电传感器拾取到位移信号后,经前置放大器放大后,位移信号由检测装置的主机采集、处理并显示。检测人员可以依据显示的信号波形判定出信号性质,以此得出检测结论。
           本公司的PIND颗粒碰撞噪声测试仪是公司自主研发,各项性能均符合国军标关于对元器件进行PIND试验的要求,检测精度及稳定性均优于国外同类产品。
           PIND颗粒碰撞噪声测试仪广泛用于航空、航天研究院所,以及最终产品用于航空航天的器件厂家。

           1.颗粒碰撞噪声测试仪4540系列(2020版本)

           保留了4511系列的传统优势,兼容4511系列的操作模式使传统与现代完美结合;大功率功放使驱动能力成倍增加,大台面(M4系列)、超大台面(M6系列)使重载方便实现。采用基于Windows软件图形界面显示的控制采集系统(电脑版),具备更友好的人机界面:直观的程序编辑及操作模式,实时存储数据及波形,测试全过程回放简单的闯值设置,全面契合GJB548C,兼顾GJB548B。

     

    主要参数


     

    产品名称 4540L 4540L-R 4540M4 4540M4-R
    传感器 型号: S140C/AL台面直径50mm,一个传感点 型号:5S155-4台面直径100mm,五个传感点
    最大载荷 400克 (500克,60Hz时)
    冲击加速度 100g~2500g 100g~800g 100g~2500g 100g~800g
    振动加速度 3.0g~25.5g
    振动频率 25Hz~250Hz(其中25HZ-40Hz只适用于5.0g振动)
    噪声传感器灵敏度 -77.5+3(dB) relv (1ubar,155kHz)
    整机配置 主机 传感器 振动台 大功率功放 控制电脑

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